論文

査読有り
2016年11月

Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation

Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
  • M. Shintani
    • ,
  • K. Oishi
    • ,
  • R. Zhou
    • ,
  • M. Hiromoto
    • ,
  • T. Sato
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7
記述言語
英語
掲載種別
エクスポート
BibTeX RIS
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