論文

査読有り
2015年3月

ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell

Design, Automation and Test in Europe (DATE)
  • H. Awano
    • ,
  • M. Hiromoto
    • ,
  • T. Sato
開始ページ
549
終了ページ
554
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI
10.7873/DATE.2015.0731
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.7873/DATE.2015.0731
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000380393200100&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.7873/DATE.2015.0731
  • ISSN : 1530-1591
  • Web of Science ID : WOS:000380393200100
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