論文

査読有り
2012年4月

Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction

IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
  • J. B. Velamala
    • ,
  • K. B. Sutaria
    • ,
  • T. Sato
    • ,
  • Y. Cao
開始ページ
2F2.1
終了ページ
2F2.5
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI
10.1109/IRPS.2012.6241795
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/IRPS.2012.6241795
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000309183100025&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1109/IRPS.2012.6241795
  • Web of Science ID : WOS:000309183100025
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