論文

査読有り
2009年11月

Accurate Array-based Measurement for Subthreshold-current of MOS Transistors

IEEE Journal of Solid-State Circuits
  • T. Sato
    • ,
  • H. Ueyama
    • ,
  • N. Nakayama
    • ,
  • K. Masu
巻
44
号
11
開始ページ
2977
終了ページ
2986
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1109/JSSC.2009.2028944
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/JSSC.2009.2028944
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000271488900012&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1109/JSSC.2009.2028944
  • ISSN : 0018-9200
  • Web of Science ID : WOS:000271488900012
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