論文

査読有り
2020年9月

An electrothermal compact model of SiC MOSFETs for simulating unclamped inductive switching tests

Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
  • Kyohei Shimozato
  • ,
  • Yohei Nakamura
  • ,
  • Song Bian
  • ,
  • Takashi Sato

記述言語
英語
掲載種別
研究論文(国際会議プロシーディングス)

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