2022年3月
Characteristic degradation of power MOSFETs by X-ray irradiation and its recovery
IEEE International Reliability Physics Symposium
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- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）
佐藤 高史
Takashi Sato
更新日: 03/11