査読有り 2011年 化学修飾された多孔質シリコンへの金属めっきに孔径が及ぼす影響 電気化学会第79回大会,朱鷺メッセ,2011.9.10 幸田吏央, 浦田子, 深見一弘, 作花哲夫, 尾形幸生 記述言語 日本語 掲載種別 エクスポート BibTeX RIS