講演・口頭発表等

二次ターゲットを用いた元素識別型X線吸収イメージングの基礎検討

第81回分析化学討論会
  • 中江 理紀*
  • ,
  • 松山 嗣史*
  • ,
  • 村上 昌史
  • ,
  • 吉田 幸彦
  • ,
  • 植田 昭彦
  • ,
  • 町田 昌彦
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  • 佐々木 紀樹
  • ,
  • 辻 幸一*

開催年月日
2021年5月
記述言語
日本語
会議種別
開催地
online
国・地域
日本

X線吸収イメージングは試料にX線を照射し、透過したX線をカメラで検出することで非破壊的に迅速なイメージングを行う手法である。X線カメラは一般的にエネルギー分解能を有しておらず、透過X線の強度のみを取得するために元素の識別ができないが、可視化したい元素(目的元素)の吸収端前後のエネルギーのX線でイメージングを行い、画像の差分を解析することで識別が可能となる。二次ターゲットとX線フィルターを用いて擬似的に単色化したX線を利用し、銅,アルミ,ニッケル箔からニッケルを選択的にイメージングした結果を報告する。

リンク情報
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5071111