産業財産権

特許権

弱点発見システム及び方法

  • 山内祐平
  • ,
  • 北村智
  • ,
  • 山田政寛
  • ,
  • 松河秀哉
  • ,
  • 和気竜也
  • ,
  • 阪口詩織
  • ,
  • 寄高真依

出願番号
特願2011-505782
出願日
2009年3月27日
公開番号
特開WO2010/109663
公開日
2010年9月30日
特許番号/登録番号
特許5411251
登録日
発行日
2013年11月15日