大竹哲史 (Satoshi Ohtake) - マイポータル

基本情報

所属: 大分大学理工学部門教授

学位: 博士(工学)(1999年6月奈良先端科学技術大学院大学)

J-GLOBAL ID: 201001018241904119
researchmap会員ID: 1000253271

外部リンク: https://gds.csis.oita-u.ac.jp/

研究キーワード

研究分野

経歴

2025年4月 - 現在

大分大学, IRセンター, センター長
2023年10月 - 現在

大分大学, 学長特命補佐（研究，研究IR，大学院生研究環境支援担当）
2019年4月 - 現在

大分大学, 理工学部, 教授
2023年4月 - 2023年9月

大分大学, 理工学部, 副学部長（研究担当）
2022年4月 - 2023年3月

大分大学, 理工学部, 共創理工学科学科長
2017年4月 - 2019年3月

大分大学, 理工学部, 准教授
2011年8月 - 2017年3月

大分大学, 工学部, 准教授
2007年4月 - 2011年7月

奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教
2007年11月 - 2008年3月

University of Wisconsin-Madison, Department of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering, Visiting Scholar - Honorary Fellow
2001年4月 - 2007年3月

奈良工業高等専門学校, 情報工学科, 非常勤講師
1999年7月 - 2007年3月

奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手
1998年4月 - 1999年6月

日本学術振興会特別研究員, DC

学歴

1997年4月 - 1999年6月

奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 博士後期課程
1995年4月 - 1997年3月

奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 博士前期課程
1991年4月 - 1995年3月

電気通信大学, 電気通信学部, 情報工学科

委員歴

2024年4月 - 現在

おおいたDX推進ラボ先端技術挑戦協議会, 委員
2022年4月 - 現在

大分県LSIクラスター形成推進会議, イノベーション部会委員
2015年4月 - 現在

電子情報通信学会情報システムソサイエティ, ディペンダブルシステム研究専門委員会委員
2011年1月 - 現在

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Steering Committee Member
2018年4月 - 2022年3月

情報処理学会, Transactions on System LSI Design Methodology 編集委員
2015年4月 - 2022年3月

大分県LSIクラスター形成推進会議, グローバルイノベーション部会委員
2020年4月 - 2021年11月

IEEE Asian Test Symposium 2021, Organizing Committee Co-Chair
2013年4月 - 2017年3月

情報処理学会, 論文誌ジャーナル/JIP編集委員
2015年4月 - 2016年11月

IEEE Asian Test Symposium, Program Committee Chair
2012年4月 - 2016年3月

情報処理学会システムとLSIの設計技術研究会, 運営委員
2012年9月 - 2015年3月

大分県LSIクラスター形成推進会議, 研究開発専門部会委員

受賞

2008年11月

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 Best Paper Award
2006年11月

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2005 Best Paper Award
2006年1月

IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA) 2006 Best Paper Award
2004年11月

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2003 Best Paper Award
2002年9月

平成13年度電子情報通信学会情報システムソサイエティ論文賞

論文

Vibration Measurement and Analysis of Rails and Signal Bonds on the Kyushu Shinkansen

Shunsuke Mukai, Yuto Kamei, Shigeki Matsubara, Satoshi Ohtake

Proceedings of IEEE International Conference on Consumer Electronics Asia 417-421 2024年11月査読有り最終著者責任著者
Vibration Measurement Experiment of Rails at Shinkansen Rail Yard in Kumamoto.

Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake

GCCE 318-320 2023年10月査読有り責任著者
Hardware Implementation of Constant Monitoring System of Fetal Heart Sounds.

Funakoshi Miyabi, Satoshi Ohtake

ICCE-Taiwan 663-664 2023年7月査読有り責任著者
A Method of Controlling Devices Remotely in Online Embedded System Engineer Training.

Toshiyuki Haramaki, Satoshi Ohtake

ICCE-Taiwan 495-496 2023年7月査読有り
Field Monitoring System for Frost Damage Warning and Quality Difference Analysis of Tea Leaves.

Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake

ICCE-Taiwan 139-140 2023年7月査読有り責任著者
A robust method of IC seating inspection in burn-in sockets using Hough transform

Tsuneo Kagawa, Masaya Ikemoto, Satoshi Ohtake

ICCE-TW 1-2 2022年7月査読有り最終著者
Vibration Measurement of Signal Bonds for Shinkansen

Yuki Echigo, Satoshi Ohtake

IEEE International Conference on Consumer Electronics(ICCE) 1-5 2021年1月査読有り責任著者
A Warning System with Multiple Sensors for Avoiding Collision of Bicycles

Kotaro Iwamoto, Satoshi Ohtake

IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan(ICCE-TW) 1-2 2020年9月査読有り責任著者
Temperature Monitoring in Shinkansen Signal and Communication House

Yui Uehara, Satoshi Ohtake

2020 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE) 1-3 2020年1月査読有り責任著者
A Koji Temperature Monitoring System

Yui Uehara, Satoshi Ohtake, Takayuki Karyu

IEEE International Conference on Consumer Electronics - Taiwan(ICCE-TW) 1-2 2019年7月査読有り責任著者
Factory Environment Monitoring: A Japanese Tea Manufacturer's Case

Yui Uehara, Satoshi Ohtake

IEEE International Conference on Consumer Electronics(ICCE) 1-3 2019年査読有り責任著者
Monitoring Sake Brewing Processes with Compact Wireless Sensors

Yui Uehara, Satoshi Ohtake, Takamoto Fukura

9th IEEE International Conference on Consumer Electronics(ICCE-Berlin) 319-323 2019年査読有り責任著者
A Built-In Self-Diagnostic Mechanism for Delay Faults Based on Self-Generation of Expected Signatures

Yushiro Hiramoto, Satoshi Ohtake, Hiroshi Takahashi

28th IEEE Asian Test Symposium(ATS) 31-36 2019年査読有り責任著者
A Mash Temperature Monitoring System for Sake Brewing

Yui Uehara, Satoshi Ohtake, Takamoto Fukura

2018 IEEE International Conference on Consumer Electronics-Taiwan, ICCE-TW 2018 2018年8月27日査読有り責任著者
A Method of Hardware-Trojan Detection Using Design Verification Techniques

Yushiro Hiramoto, Satoshi Ohtake

Complex, Intelligent, and Software Intensive Systems - Proceedings of the 12th International Conference on Complex, Intelligent, and Software Intensive Systems(CISIS) 978-987 2018年査読有り責任著者
An approach to LFSR-based X-masking for built-in self-test

Satoshi Ohtake, Daichi Shimazu

18th IEEE Latin American Test Symposium(LATS) 1-4 2017年査読有り筆頭著者責任著者
A method of LFSR seed generation for hierarchical BIST

Kosuke Sawaki, Satoshi Ohtake

Proceeding of 2015 10th International Design and Test Symposium, IDT 2015 118-123 2016年2月1日査読有り最終著者責任著者
A Method of Diagnostic Test Generation for Transition Faults

Renji Ono, Satoshi Ohtake

21st IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing(PRDC) 273-278 2015年査読有り責任著者
A method of one-pass seed generation for LFSR-based deterministic/pseudo-random testing of static faults

Takanori Moriyasu, Satoshi Ohtake

16th Latin-American Test Symposium(LATS) 1-6 2015年査読有り責任著者
A Delay Measurement Mechanism for Asynchronous Circuits of Bundled-Data Model

Shuichi Sato, Satoshi Ohtake

18th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems(DDECS) 243-248 2015年査読有り責任著者

もっとみる

MISC

ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法

野間旭媛, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 124(374) 37-42 2025年2月
胎児心音常時モニタリングシステムのハードウェア実装

舩越雅, 大竹哲史

火の国情報シンポジウム2023 1-6 2023年3月
AR技術を用いた観光者向け地域情報提示ツールの開発

諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史

第84回全国大会講演論文集 2022(1) 201-202 2022年2月17日
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法

岩本岬汰郎, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 121(388(DC2021 64-78)) 2022年
ARランドマークを用いた観光案内支援ツールの開発

諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史

第83回全国大会講演論文集 2021(1) 253-254 2021年3月4日
畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測

岡龍之介, 大竹哲史, 熊木光一

電子情報通信学会技術研究報告 119(420(DC2019 86-97)(Web)) 2020年
自動列車制御を支える送着ボンドの振動測定

越後裕貴, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120(288(DC2020 59-68)) 2020年
期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構

平本悠翔郎, 大竹哲史, 高橋寛

電子情報通信学会技術研究報告 118(456) 31-36 2019年2月
独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成

力野英, 平本悠翔郎, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 119(282(VLD2019 29-53)) 2019年
遅延故障向け組込み自己診断のための圧縮シード生成法

中野雄太, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 119(282(VLD2019 29-53)) 139-143 2019年
通常動作時の温度状況を考慮したBISTの品質向上

都甲康平, 大竹哲史

電気関係学会九州支部連合大会講演論文集 2018 424-424 2018年9月19日
束データ方式非同期式回路のFPGA実装とそのテスト設計

山下弘一郎, 大竹哲史

電気関係学会九州支部連合大会講演論文集 2018 138-138 2018年9月19日
同一遅延を持つ独立経路ペアを用いたハードウェアトロイ検出テスト生成

力野英, 平本悠翔郎, 大竹哲史

電気関係学会九州支部連合大会講演論文集 2018 426-426 2018年9月19日
同一遅延経路のランダムペアを用いたハードウェアトロイ検出テスト生成

平本悠翔郎, 力野英, 大竹哲史

電気関係学会九州支部連合大会講演論文集 2018 425-425 2018年9月19日
機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法

柚留木大地, 大竹哲史, 中村芳行

電子情報通信学会技術研究報告 117(273) 55-60 2017年11月
遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法

渡邊恭之介, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 117(274) 49-54 2017年11月
論理回路の組込み自己診断に関する提案

香川敬祐, 矢野郁也, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 116(466) 11-16 2017年2月21日
機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討

柚留木大地, 大竹哲史, 中村芳行

電子情報通信学会技術研究報告 116(466) 17-22 2017年2月21日
オンチップ故障診断のためのLFSRシード生成法

南薗隼人, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 116(330) 117-122 2016年11月28日
遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成

嶋津大地, 大竹哲史

電子情報通信学会技術研究報告 115(338) 213-218 2015年12月1日

もっとみる

所属学協会

2020年1月 - 現在

IEEE Consumer Technology Society Member
2016年1月 - 現在

IEEE Circuits and Systems Society Member
2011年11月 - 現在

IEEE Senior Member
2004年11月 - 現在

情報処理学会会員
1999年7月 - 現在

IEEE Computer Society Member
1999年7月 - 現在

電子情報通信学会会員

共同研究・競争的資金等の研究課題

プロセッサの命令レベル自己劣化検知機構とテストプログラム自動生成に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2023年4月 - 2026年3月

大竹哲史
IoT時代の再構成可能集積回路に対する高信頼化に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2018年4月 - 2024年3月

大竹哲史
フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2018年7月 - 2023年3月

梶原誠司, 大竹哲史, 三宅庸資
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2016年4月 - 2019年3月

高橋寛, 大竹哲史, 樋上喜信, 王森レイ
集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究挑戦的萌芽研究 2015年4月 - 2018年3月

梶原誠司, 大竹哲史, 佐藤康夫, 中村芳行
FPGA搭載回路のフィールド高信頼化に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2014年4月 - 2018年3月

大竹哲史
ＶＬＳＩの通常動作状況を考慮した高精度遅延テストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 若手研究(B) 2010年4月 - 2014年3月

大竹哲史
フィールド高信頼化のための回路・システム機構

科学技術振興機構(JST) 戦略的創造研究推進事業(CREST) 2008年 - 2011年

梶原誠司, 井上美智子, 三浦幸也, 大竹哲史
ネットワークオンチップにおけるテスト容易性と安全性に関する基礎研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2008年 - 2010年

藤原秀雄, 井上美智子, 大竹哲史, 米田友和
集積回路の歩留まり向上を指向したテスト技術

財団法人生産技術研究奨励会研究奨励助成 2007年4月 - 2008年3月

大竹哲史, 岩垣剛
大規模LSIの上流からのフォールスパス判定とテスト不要化合成に関する研究

半導体理工学研究センター共同研究 2006年4月 - 2008年3月

藤原秀雄
構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2006年 - 2008年

井上美智子, 大竹哲史, 米田友和
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 若手研究(B) 2005年 - 2007年

大竹哲史
システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2003年 - 2006年

藤原秀雄, 井上美智子, 大竹哲史, 米田友和
プロセッサの命令レベル自己テストとテスト容易化設計に関する研究

半導体理工学研究センター共同研究 2003年4月 - 2005年3月

藤原秀雄
低消費電力性とテスト容易性をともに考慮したVLSI高位設計

日本学術振興会科学研究費助成事業萌芽研究萌芽研究 2002年 - 2004年

井上美智子, 大竹哲史, 米田友和
Vコアベーステスト容易化設計技術の研究開発

半導体理工学研究センター受託研究 2000年4月 - 2002年3月

藤原秀雄
大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(A) 奨励研究(A) 2000年 - 2001年

大竹哲史
テスト容易性を考慮した大規模・高性能 VLSI 高位合成およびテスト合成の研究

半導体理工学研究センター共同研究 1997年4月 - 2000年3月

藤原秀雄
テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業特別研究員奨励費特別研究員奨励費 1998年 - 1999年

大竹哲史

産業財産権

特許7195602 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法

大竹哲史, 平本悠翔郎
特許6391336 スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体

大竹哲史, 本田太郎, 森保孝憲
特許United States Patent 9991006 Asynchronous memory element for scanning

Satoshi Ohtake, Hiroshi Iwata, Michiko Inoue
特許第5761819号スキャン非同期記憶素子およびそれを備えた半導体集積回路ならびにその設計方法およびテストパターン生成方法

大竹哲史, 岩田大志, 井上美智子
特許第3349123号集積回路及びその集積回路の回路設計方法

藤原秀雄, 増澤利光, 大竹哲史
特許第3243207号テスト容易な集積回路，集積回路のテスト容易化設計方法，および集積回路のテスト容易化設計のためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

藤原秀雄, 増澤利光, 大竹哲史

大竹哲史

基本情報

研究キーワード

研究分野

経歴

学歴

委員歴

受賞

論文

MISC

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

産業財産権

メニュー

共著者の一覧