特許権 質量スペクトルと略同時に吸収・発光・散乱スペクトルを分析する分析装置および分析方法、並びに、エレクトロスプレーイオン化法を用いた質量分析装置および分析方法 小江誠司, 福住俊一, 渡辺芳人 出願番号 特願PCT/JP 2005/002934 出願日 2005年2月23日 公開番号 特開WO 2005/083416 A1 公開日 2005年9月9日