産業財産権

特許権

質量スペクトルと略同時に吸収・発光・散乱スペクトルを分析する分析装置および分析方法、並びに、エレクトロスプレーイオン化法を用いた質量分析装置および分析方法

  • 小江誠司
  • ,
  • 福住俊一
  • ,
  • 渡辺芳人

出願番号
特願PCT/JP 2005/002934
出願日
2005年2月23日
公開番号
特開WO 2005/083416 A1
公開日
2005年9月9日