MISC

2017年

Potential-induced degradation of a Si nitride/crystalline Si interface observed through minority carrier lifetime measurement

Proceedings of the 44th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (44th IEEE PVSC)
  • Naoyuki Nishikawa
  • ,
  • Seira Yamaguchi
  • ,
  • Keisuke Ohdaira

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1385
終了ページ
1388
記述言語
掲載種別
記事・総説・解説・論説等(国際会議プロシーディングズ)