MISC

2016年7月

Quantitative Atomic Resolution Differential Phase Contrast Imaging Using a Segmented Area All Field Detector

Microscopy and Microanalysis

Gabriel Sanchez-Santolino
Takehito Seki
Nathan Lugg
Ryo Ishikawa
Daniel J. Taplin
Scott D. Findlay
Yuichi Ikuhara
Naoya Shibata

巻: 22
号: S3
開始ページ: 504
終了ページ: 505
DOI: 10.1017/s1431927616003378

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1017/s1431927616003378
URL: https://www.cambridge.org/core/services/aop-cambridge-core/content/view/S1431927616003378

ID情報

DOI : 10.1017/s1431927616003378
ISSN : 1431-9276
eISSN : 1435-8115

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