関 岳人
セキ タケヒト (Takehito Seki)
更新日: 04/19
MISC
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表面と真空 66(12) 683-688 2023年12月10日 査読有り招待有り筆頭著者責任著者
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固体物理 58(7) 377-383 2023年7月15日 査読有り
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JEOL News 58(1) 21-28 2023年7月1日
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日本電子News 55(1) 2-7 2023年7月1日 招待有り
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固体物理 58 21-27 2023年7月 査読有り招待有り筆頭著者
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顕微鏡 57(3) 131-138 2022年12月 査読有り招待有り
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まてりあ 61(10) 640-644 2022年10月1日 査読有り招待有り
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顕微鏡 47(2) 49-53 2022年8月 査読有り招待有り責任著者
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電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) 142(3) 367-372 2022年3月1日 査読有り
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Microscopy and Microanalysis 26(S2) 442-443 2020年8月
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Microscopy 68(Supplement_1) i36-i36 2019年11月1日
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Microscopy and Microanalysis 25(S2) 484-485 2019年8月
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AMTC Letters 6 22-24 2019年
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AMTC Letters 6 48-49 2019年
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AMTC Letters 6 46-47 2019年 筆頭著者
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Microscopy and Microanalysis 25(S2) 60-61 2019年 筆頭著者
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まてりあ 58(2) 102-102 2019年
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まてりあ 58(2) 104-104 2019年 筆頭著者
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Microscopy and Microanalysis 23(S1) 34-35 2017年7月
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Microscopy and Microanalysis 23(S1) 440-441 2017年7月 筆頭著者
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顕微鏡 52(1) 8-12 2017年 査読有り
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Microscopy and Microanalysis 22(S3) 906-907 2016年7月
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Microscopy and Microanalysis 22(S3) 504-505 2016年7月
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AMTC Letters 5 24-25 2016年
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Microscopy 63(suppl 1) i17.2-i18 2014年11月 筆頭著者
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AMTC Letters 2 194-195 2010年 筆頭著者
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Microscopy and Microanalysis 15(S2) 772-773 2009年7月