講演・口頭発表等

招待有り
2018年2月24日

微分位相コントラスト法による電磁場定量の現状と展望

日本顕微鏡学会超高分解能顕微鏡法分科会研究会
  • 関岳人
  • ,
  • G. Sánchez-Santolino
  • ,
  • 石川亮
  • ,
  • S.D. Findlay
  • ,
  • 幾原雄一
  • ,
  • 柴田直哉

記述言語
日本語
会議種別
開催地
神奈川県
国名
日本

リンク情報
URL
http://microscopy.or.jp/bunkakai_history/