論文

査読有り
2020年6月

Quantitative Electric Field Mapping of a p-n Junction by DPC-STEM

Ultramicroscopy
  • Satoko Toyama
  • ,
  • Takehito Seki
  • ,
  • Satoshi Anada
  • ,
  • Hirokazu Sasaki
  • ,
  • Kazuo Yamamoto
  • ,
  • Yuichi Ikuhara
  • ,
  • Naoya Shibata

DOI
10.1016/j.ultramic.2020.113033

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2020.113033
共同研究・競争的資金等の研究課題
19H05788界面機能コア解析
共同研究・競争的資金等の研究課題
17H06094原子・イオンダイナミクスの超高分解能直接観察に基づく新材料創成

エクスポート
BibTeX RIS