講演・口頭発表等

フェライト廃液処理法の放射性廃棄物への適用; マイクロPIXE分析法による生成物の安定性の検討

第32回PIXEシンポジウム
  • 阿部 智久
  • ,
  • 嶋崎 竹二郎
  • ,
  • 中山 卓也
  • ,
  • 大曽根 理
  • ,
  • 大杉 武史
  • ,
  • 中澤 修
  • ,
  • 百合 庸介*
  • ,
  • 山田 尚人*
  • ,
  • 佐藤 隆博*

開催年月日
2016年11月
記述言語
日本語
会議種別
開催地
函館
国・地域
日本

本研究では、フェライト処理による有害な元素の固定化技術の開発のために、目的元素によるフェライト生成物の違いを明らかにすることを目指す。フェライト生成物には原料由来の軽元素が含まれるため、組成分析にマイクロPIXE分析の適用を試みた。Pb及びCrの有害元素含有廃液をフェライト処理し、その生成物を試料としてXRDによる構造解析、PIXEによる組成分析を実施した。測定の結果、フェライトが同一構造をとっているにも関わらず、PbでのみSが検出された。本研究によって、目的元素を変えることによって、同一のフェライト構造をとるのにも関わらず、組成に違いが表れることが分かった。今後は、Sが構造に果たしている役割について調査し、有害元素の固定化性能への影響を明らかにする。

リンク情報
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5057396