2011年 （高分子薄膜/ナノインプリント高分子）積層系における ‘埋もれた’微細構造の小角X線散乱測定による非破壊精密構造評価 第60回高分子討論会（岡山大学） 篠原貴道, 白波瀬朋子, 村上大樹, 星野大樹, 菊地守也, 小池淳一郎, 堀米 操, 高原 淳 開催年月日 2011年 - 2011年 記述言語 会議種別 ポスター発表
