飯田真一 (Shin-ichi Iida) - マイポータル

基本情報

所属: アルバック・ファイ株式会社ソリューション開発課 (博士（工学）)

研究者番号: 90765794
ORCID iD: https://orcid.org/0000-0001-5871-8961
J-GLOBAL ID: 202501013402120840
researchmap会員ID: R000082032

研究分野

経歴

2004年4月 - 現在

アルバック・ファイ株式会社 (博士（工学）)

学歴

2000年4月 - 2004年3月

大阪大学, 大学院工学研究科, （専攻）物質・生命工学専攻
1998年4月 - 2000年3月

大阪大学, 大学院工学研究科, （専攻）応用物理学

委員歴

2025年4月 - 現在

R073先端計測分析技術の未来創成委員会, 委員会委員
2019年4月 - 現在

表面化学分析技術国際標準化委員会, 委員会委員
2014年4月 - 2023年3月

一般社団法人表面分析研究会, 運営担当講演委員

受賞

2018年10月

Powell賞, 広立体角観察を可能とする試料ホルダーの実用化, 表面分析研究会

飯田真一
2012年9月

榊技術賞, 飛行時間型二次イオン質量分析における高精度化, 日本学術振興会

飯田真一
2001年11月

学生奨励賞, 3rd International Symposium on Atomic Level characterization for New Material and Devices'01

飯田真一

論文

Hybrid sputtering approach for reliable TOF-SIMS depth profiling of inorganic–organic multilayer films

Gabriele Di Stadio, Shin-ichi Iida

Journal of Vacuum Science & Technology B 2025年12月1日
Selection of Surface Coating Materials for Ni-Rich NCM in All-Solid-State Batteries through Electronic Band Structure Analysis Using UPS/LEIPS

Masahiro Terashima, Kazutoshi Mamiya, Takahito Kimoto, Shunsuke Sasaki, Shin-ichi Iida

The Journal of Physical Chemistry C 2024年6月6日査読有り責任著者
Quantitative and Qualitative Analyses of Mass Spectra of OEL Materials by Artificial Neural Network and Interface Evaluation: Results from a VAMAS Interlaboratory Study

Satoka Aoyagi, David Cant, Michael Dürr, Anya Eyres, Sarah Fearn, Ian Gilmore, Shin-ichi Iida, Reiko Ikeda, Kazutaka Ishikawa, Matija Lagator …

Analytical Chemistry 2023年10月10日
Improving the Stability of Li Metal Anode/Solid Electrolyte Interfaces via an Li3PO4 Intermediate Layer: An Investigation of Surface Chemistry and Electronic Band Structure

Shin-ichi Iida, Masahiro Terashima, Kazutoshi Mamiya, Takahito Kimoto, Shunsuke Sasaki

Journal of The Electrochemical Society 2023年9月1日査読有り責任著者
AES lithium chemical mapping in buried interface of all‐solid‐state battery materials

Masahiro Terashima, Kazutoshi Mamiya, Shin‐ichi Iida

Surface and Interface Analysis 2023年6月
Sample processing by Bi‐FIB for in situ TOF‐SIMS imaging of buried interfaces

Shin‐ichi Iida, Gregory L. Fisher, Takuya Miyayama

Surface and Interface Analysis 2023年3月査読有り責任著者
Single and dual metal atom catalysts for enhanced singlet oxygen generation and oxygen reduction reaction

Mohsen Tamtaji, Songhhua Cai, Wenting Wu, Tongchao Liu, Zhimin Li, Hsun-Yun Chang, Patrick Ryan Galligan, Shin-ichi Iida, Xiangrong Li, Faisal Rehman …

Journal of Materials Chemistry A 2023年
X-ray Photoelectron Spectroscopy Equipped with Gas Cluster Ion Beams for Evaluation of the Sputtering Behavior of Various Nanomaterials

Hsun-Yun Chang, Wei-Chun Lin, Po-Chih Chu, Yi-Kai Wang, Mauo Sogo, Shin-ichi Iida, Chien-Jung Peng, Takuya Miyayama

ACS Applied Nano Materials 5(3) 4260-4268 2022年3月25日
Characterization of cathode-electrolyte interface in all-solid-state batteries using TOF-SIMS, XPS, and UPS/LEIPS

Shin-ichi Iida, Masahiro Terashima, Kazutoshi Mamiya, Hsun-Yun Chang, Shunsuke Sasaki, Atsuo Ono, Takahito Kimoto, Takuya Miyayama

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 2021年7月1日査読有り責任著者
Evaluation of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry Spectra of Peptides by Random Forest with Amino Acid Labels: Results from a Versailles Project on Advanced Materials and Standards Interlaboratory Study

Satoka Aoyagi, Yukio Fujiwara, Akio Takano, Jean-Luc Vorng, Ian Gilmore, Yung-Chen Wang, Elke Tallarek, Birgit Hagenhoff, Shin-ichi Iida, Andreas Luch …

Analytical Chemistry 93(9) 4191-4197 2021年3月9日
Bismuth adducted intact molecular ions [M + Bi]+ under low-energy bismuth cluster ion beams

Takuya Miyayama, Shin-ichi Iida

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 2020年5月1日
Wider vision capability provided by a curved surface sample holder for TOF-SIMS imaging

Shin-ichi Iida, Hsun-Yun Chang, Gregory L. Fisher, Takuya Miyayama, Ibuki Tanaka

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 2020年5月1日査読有り責任著者
Time‐of‐flight secondary ion tandem mass spectrometry depth profiling of organic light‐emitting diode devices for elucidating the degradation process

Shin‐ichi Iida, Tetsushi Murakami, Yu Kurosawa, Yoshiyuki Suzuri, Gregory L. Fisher, Takuya Miyayama

Rapid Communications in Mass Spectrometry 34(7) 2020年4月15日査読有り責任著者
TOF-SIMS MS/MS Depth Profiling of OLED Devices-Toward the Elucidation of Degradation Process-

Shin-ichi IIDA

Journal of Surface Analysis 2019年査読有り責任著者
Low-energy bismuth primary ion beams for molecular ion detection in TOF-SIMS

Takuya Miyayama, Shin-ichi Iida

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 2018年5月1日
Accurate and reproducible in-depth observation of organic–inorganic hybrid materials using FIB-TOF-SIMS

Shin-ichi Iida, David M. Carr, Gregory L. Fisher, Takuya Miyayama

Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 36(3) 2018年1月30日査読有り責任著者
Use of High Energy Collision Induced Dissociation (HE-CID) in TOF-SIMS for Unambiguous Peak Identification and Imaging

S. R. Bryan, G. L. Fisher, P. E. Larson, J. S. Hammond, R. M. A. Heeren, S. Iida, T. Miyayama

Journal of Surface Analysis 2017年
Topography and field effects in the inner side of microvia hole using ToF‐SIMS

Jae Cheol Lee, Yong Koo Kyoung, In Yong Song, Jae Woo Lee, Young Sik Shin, Jin Seok Kim, Shin‐ichi Iida

Surface and Interface Analysis 2014年7月
A new approach for determining accurate chemical distributions using in‐situ GCIB cross‐section imaging

Shin‐ichi Iida, Takuya Miyayama, Gregory L. Fisher, John S. Hammond, Scott R. Bryan, Noriaki Sanada

Surface and Interface Analysis 46(S1) 83-86 2014年6月6日査読有り責任著者
Optimizing C₆₀ incidence angle for polymer depth profiling by ToF‐SIMS

Shin‐ichi Iida, Takuya Miyayama, Noriaki Sanada, Mineharu Suzuki, Gregory L. Fisher, Scott R. Bryan

Surface and Interface Analysis 43(1-2) 214-216 2011年1月19日査読有り筆頭著者

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産業財産権

特開2020-009549 二次イオン質量分析装置

飯田真一、宮山卓也、田中伊吹