MISC

2000年3月28日

フォトレフレクタンス分光法によるSiO₂/Si界面の歪みの解析

応用物理学関係連合講演会講演予稿集

阿形眞司
寒川雅之
江利口浩二
藤本晶
金島岳
山下馨
奥山雅則

巻: 47th
号: 2
開始ページ: 820
終了ページ
記述言語: 日本語
掲載種別

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J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201202181924618177
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201202181924618177

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J-Global ID : 201202181924618177

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