2002年9月24日 high‐k/SiO2/Si構造のフォトレフレクタンス評価 応用物理学会学術講演会講演予稿集 寒川雅之, 神田浩文, 金島岳, 藤本晶, 奥山雅則 巻 63rd 号 2 開始ページ 710 終了ページ 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200902137891039066URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/200902137891039066 ID情報 J-Global ID : 200902137891039066 エクスポート BibTeX RIS