論文

査読有り

2021年3月8日

Modeling attacks against device authentication using CMOS image sensor PUF

IEICE Electronics Express

Hiroshi Yamada
Shunsuke Okura
Masayoshi Shirahata
Takeshi Fujino

巻: 18
号: 7
開始ページ: 20210058
終了ページ: 20210058
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1587/elex.18.20210058

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1587/elex.18.20210058
DBLP: https://dblp.uni-trier.de/rec/journals/ieiceee/YamadaOSF21
URL: https://dblp.uni-trier.de/db/journals/ieiceee/ieiceee18.html#YamadaOSF21

ID情報

DOI : 10.1587/elex.18.20210058
DBLP ID : journals/ieiceee/YamadaOSF21

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