2022年7月 次世代パワーエレクトロニクスの課題と評価技術 担当区分 分担執筆 担当範囲 SiC-MOSデバイスのしきい値電圧変動とその評価技術 出版者・発行元 S&T出版 DOI ISBN 9784907002930 ID情報 ISBN : 9784907002930
