講演・口頭発表等

招待有り
2016年8月

しきい値電圧変動に対するSiC-MOS界面窒化の効果とその評価方法

応用物理学会 先進パワー半導体分科会 第2回個別討論会
  • 染谷満

記述言語
日本語
会議種別
口頭発表(招待・特別)