招待有り 2016年8月 しきい値電圧変動に対するSiC-MOS界面窒化の効果とその評価方法 応用物理学会 先進パワー半導体分科会 第2回個別討論会 染谷満 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表(招待・特別)