論文

査読有り
2019年10月7日

Electrically detected-magnetic-resonance identifications of defects at 4H-SiC(000 1 ¯)/SiO2 interfaces with wet oxidation

Applied Physics Letters
  • T. Umeda
  • ,
  • Y. Kagoyama
  • ,
  • K. Tomita
  • ,
  • Y. Abe
  • ,
  • M. Sometani
  • ,
  • M. Okamoto
  • ,
  • S. Harada
  • ,
  • T. Hatakeyama

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15
開始ページ
151602
終了ページ
151602
記述言語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.1063/1.5116170
出版者・発行元
AIP Publishing

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1063/1.5116170
URL
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.5116170
ID情報
  • DOI : 10.1063/1.5116170
  • ISSN : 0003-6951
  • eISSN : 1077-3118
  • ORCIDのPut Code : 62927386

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