2019年10月7日
Electrically detected-magnetic-resonance identifications of defects at 4H-SiC(000 1 ¯)/SiO2 interfaces with wet oxidation
Applied Physics Letters
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- 巻
- 115
- 号
- 15
- 開始ページ
- 151602
- 終了ページ
- 151602
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文(学術雑誌)
- DOI
- 10.1063/1.5116170
- 出版者・発行元
- AIP Publishing
- ID情報
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- DOI : 10.1063/1.5116170
- ISSN : 0003-6951
- eISSN : 1077-3118
- ORCIDのPut Code : 62927386