論文

査読有り
2022年2月7日

Electrical detection of TV2a-type silicon vacancy spin defect in 4H-SiC MOSFETs

Applied Physics Letters
  • Yuta Abe
    • ,
  • Akihumi Chaen
    • ,
  • Mitsuru Sometani
    • ,
  • Shinsuke Harada
    • ,
  • Yuichi Yamazaki
    • ,
  • Takeshi Ohshima
    • ,
  • Takahide Umeda
記述言語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1063/5.0078189
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1063/5.0078189
ID情報
  • DOI : 10.1063/5.0078189
  • ORCIDのPut Code : 107837278
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