講演・口頭発表等

国際会議

酸素K殼イオン化エネルギー領域の軟X線照射によるDNA損傷の収率変化

12th International Workshop on Radiation Damage to DNA
  • 菅谷 雄基
  • ,
  • 椎名 卓也
  • ,
  • 白石 伊世
  • ,
  • 藤井 健太郎
  • ,
  • 横谷 明徳

開催年月日
2012年6月
記述言語
英語
会議種別
国・地域
チェコ

酸素のK殻イオン化を引き起こすと、塩基損傷収率が窒素のK殼イオン化の収率と比べ急激に増えることがわかっている。本研究では、軟X線を照射したDNAに生成される鎖切断や塩基損傷,APサイトを定量し、内殻励起やイオン化が選択的損傷生成に果たす役割を明らかにすることを目的とする。試料にはプラスミドDNAを用い、SPring-8のBL23SUを使用して照射を行った。ピリミジン塩基損傷及びプリン塩基損傷,APサイトの検出は、それぞれNth, Fpg, Nfoの3種類のDNAグリコシレースで処理しSSB(single strand break)に変え、アガロース電気泳動法によって定量した。その結果、予想に反しDNA中の酸素を1sから$\sigma$$^{*}$へ選択的に励起を引き起こす軟X線を照射すると、DNA損傷収率が大きく減少することがわかった。これは、励起により生じた1価の陽イオンは、イオン化による2価の陽イオンに比べ、損傷誘発に大きくは寄与しない可能性を示している。本国際会議では、酸素のK殼イオン化エネルギー領域についてのDNA損傷の収率変化を報告し、それらがDNA損傷の選択的な生成機構に寄与するかについて議論する。

リンク情報
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5035714