藤居義和 (Yoshikazu Fujii) - マイポータル

基本情報

所属: 神戸大学大学院工学研究科機械工学専攻准教授

学位: 工学修士(京都大学)
博士（工学）(京都大学)

J-GLOBAL ID: 200901087094332326
researchmap会員ID: 1000027506

研究キーワード

研究分野

自然科学一般 / 数理物理、物性基礎 /

学歴

- 1993年11月

京都大学大学院工学研究科博士後期課程物理工学専攻修了

委員歴

論文

正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第54報

藤居義和

正倉院調査報告書第54報 2019年3月招待有り
Microstructure and Magnetic Properties of Cu-Ag-La-Fe Immiscible Alloys with an Amorphous Phase

Takeshi Nagase, T. Terai, T. Kakeshita, Megumi Matsumoto, Y. Fujii

Materials Transactions 60(4) 554-560 2019年1月査読有り
正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第53報

藤居義和

正倉院調査報告書第53報 2018年3月招待有り
Microstructure of Ti-Ag immiscible alloys with liquid phase separation

Takeshi Nagase, Megumi Matsumoto, Y. Fujii

Journal of Alloys and Compounds 738 440-447 2018年1月査読有り
Cu-Ag-La-Fe 液相分離型アモルファス合金の組織と磁気的性質

永瀬丈嗣, 寺井智之, 掛下知行, 松本恵, 藤居義和

粉体および粉末冶金 65(1) 45-51 2018年1月査読有り
New investigation method on surface roughness correlation function with the use of X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

ALC'17 Proceedings 29 p1-4 2017年12月
Microstructure of Ti-Nb-Ag Immiscible Alloys with Liquid Phase Separation

Takeshi Nagase, Megumi Matsumoto, Y. Fujii

Microscopy, 2017, Vol. 66, No. S1, i22 66 PM-09 2017年12月査読有り
Design and microstructure analysis of globules in Al-Co-La-Pb immiscible alloys with an amorphous phase

Takeshi Nagase, Mamoru Takemura, Mitsuaki Matsumuro, Megumi Matsumoto, Yoshikazu Fujii

Materials and Design 117 338-345 2017年3月5日査読有り
正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第52報

藤居義和

正倉院調査報告書第52報 2017年3月招待有り
Analysis of surface roughness correlation function by X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 48(11) 1136-1138 2016年11月査読有り
正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第51報

藤居義和

正倉院調査報告書第51報 2016年3月招待有り
Analysis of surface roughness correlation function by X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

ALC'15 Proceedings 27p-P35(0089) p1-4 2015年10月
Improved formulae for X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

Transaction of the Materials Research Society of Japan 40(4) 359-362 2015年5月査読有り
正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第50報

藤居義和

正倉院調査報告書第50報 2015年3月招待有り
Improvement of X-ray Reflectivity Analysis on Surface and Interface Roughness Estimation

Yoshikazu Fujii

American Journal of Physics and Applications 3(2) 21-24 2015年3月査読有り
Surface and interface roughness estimations by X-ray reflectivity and RBS measurements

Y. Fujii, K. Nakajima, M. Suzuki, K. Kimura

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 46(12-13) 1208-1211 2014年12月査読有り
Improvement of surface and interface roughness estimation on X-ray reflectivity

Y. Fujii

POWDER DIFFRACTION 29(3) 265-268 2014年9月査読有り
Sputtering of SiN films by 540 keV C-60(2+) ions observed using high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy

K. Nakajima, Y. Morita, T. Kitayama, M. Suzuki, K. Narumi, Y. Saitoh, M. Tsujimoto, S. Isoda, Y. Fujii, K. Kimura

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS 332 117-121 2014年8月査読有り
Improvement of X-ray reflectivity calculation on surface and interface roughness

Yoshikazu Fujii

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 53(5) 1-4 2014年5月査読有り
Ｘ線反射率法の理論式の改良

藤居義和

埋もれた界面のＸ線・中性子解析アウトルック２０１４ 69-70 2014年4月招待有り

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MISC

Recent Developments in the X-ray Reflectivity Analysis

Yoshikazu Fujii

American Journal of Physics and Applications 4(2) 27-49 2016年3月査読有り
Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials

Yoshikazu Fujii

Journal of Materials Article ID 678361(2013) 1-20 2013年8月査読有り
Ｘ線反射率解析における問題点とその改良

藤居義和

Ｘ線分析の進歩 43 103-126 2012年4月査読有り
微小角入射Ｘ線散乱法を利用した薄膜表面層構造評価

藤居義和

まてりあ第9号 2009年9月査読有り
色即是空による量子力学談話

藤居義和

大学の物理教育 15(2), 445-451 2009年4月査読有り
色即是空による量子と回折の表現

藤居義和

Ｘ線分析の進歩 40 115-126 2009年4月査読有り
28aYE-3 色即是空による量子力学の表現(28aYE 物理教育,領域13(物理教育,物理学史,環境物理))

藤居義和

日本物理学会講演概要集 64(1) 405-405 2009年3月3日
微小角入射Ｘ線回折による表面近傍層の深さ方向構造解析

藤居義和

Ｘ線分析の進歩 39, pp.47-62 2008年1月査読有り
微小角入射X線回析強度の微分解析による表面近傍結晶構造解析

藤居義和, 保田英洋

神戸大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー年報 No.8 2003年
電子励起によるGaSb化合物ナノ粒子の構造変化

保田英洋, 藤居義和

神戸大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー年報 8,61-65 2003年
電子放射によるⅢ-Ⅴ族化合物の化学的および幾何学的不規則化

保田英洋, 藤居義和, 藤井稔

神戸大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー年報 8,49-54 2003年
正倉院宝庫における金属表面試料腐食調査報告第37報

藤居義和

正倉院調査報告書第37報 2002年3月
28a-S-9 PbSe(111)ホモエピタキシャル成長中の鏡面反射イオンの強度振動

中嶋薫, 藤居義和, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1995(4) 14-14 1995年9月
30p-YB-9 単結晶表面で鏡面反射した数 10 keV 希ガスイオンのエネルギー損失

鳴海一雅, 加藤文弘, 藤居義和, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 年会 50(4) 16-16 1995年3月16日
鏡面反射イオン分光による成長表面のその場研究 (原子レベルでの結晶成長機構) -- (成長表面と界面構造)

万波通彦, 木村健二, 藤居義和

日本結晶成長学会誌 21(5) Sp303-310 1994年10月
4p-B-3 固体表面の阻止能

木村健二, 藤居義和, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1994(4) 15-15 1994年8月16日
2a-Q-6 PbSe(111)(√<3>×√<3>)R30°の高分解能RBSによる観察

中嶋薫, 藤居義和, 長枝浩, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1994(2) 358-358 1994年8月
30p-YS-11 単結晶表面で斜入射散乱した高速粒子の飛行時間スペクトル

鳴海一雅, 藤居義和, 加藤文弘, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 年会 49(4) 16-16 1994年3月16日
28a-WB-2 鏡面反射イオン分光によるlayer-by-layer成長表面のその場観察

中嶋薫, 藤居義和, 鳴海一雅, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 年会 49(2) 415-415 1994年3月
13p-Q-13 斜入射散乱したMeV Liイオンのエネルギー損失の入射・出射電荷依存

鳴海一雅, 藤居義和, 鳥羽一彰, 木村健二, 万波通彦

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1993(4) 19-19 1993年9月20日

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書籍等出版物

Top 5 Contributions in Materials Science (Chapter 2: Recent Developments in the X-ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials)

Yoshikazu Fujii (担当:共著)

Avid Science 2019年1月
X-Ray Scattering

Yoshikazu Fujii (担当:共著)

Nova Science Publishers, Inc. 2011年12月
表面・界面分析の基礎と応用

藤居義和 (担当:共著)

日本表面科学会 2009年10月
表面・界面分析の基礎と応用

藤居義和 (担当:共著)

日本表面科学会 2008年10月

講演・口頭発表等

チタン合金の液体分離

永瀬丈嗣, 松本恵, 藤居義和

日本学術振興会合金状態図172委員会・第34回研究会 2018年4月
New investigation method on surface roughness correlation function with the use of X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17 2017年12月
Microstructure of Ti-Nb-Ag Immiscible Alloys with Liquid Phase Separation

永瀬丈嗣, 松本恵, 藤居義和

60th Memorial Symposium of the Japanese Society of Microscopy 2017年12月
Analysis of the Surface Roughness Correlation Function by X-ray Reflectivity

藤居義和

7th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces 2016年6月
Analysis of surface roughness correlation function by X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15 2015年10月
Ｘ線反射率解析における可干渉成分の取り扱い

Yoshikazu Fujii

応用物理学会 2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会分科企画シンポジウム 2014年9月招待有り
Improved formulae of X-ray reflectivity

Yoshikazu Fujii

The 15th IUMRS-International Conference in Asia (IUMRS-ICA 2014) 2014年8月
Improved formalism of X-ray reflectivity on multilayered surface

Yoshikazu Fujii

9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’13 2013年12月
Estimation of Surface and Interface Roughness using Improved formalism of X-ray Reflectivity

Yoshikazu Fujii

12th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures 2013年11月
Improvement of X-ray Reflectivity Calculation on Surface and Interface Roughness

Yoshikazu Fujii

2013 JSAP-MRS Joint Symposia 2013年9月
Surface and Interface Roughness Estimations by X-ray Reflectivity and RBS Measurements

Yoshikazu Fujii

25th International Conference on Atomic Collisions in Solids 2012年10月 The Japan Society of Applied Physics
Improved Calculations for X-ray Reflectivity on Surfaces and Interfaces

Yoshikazu Fujii

2012 International Conference on Advances in Materials Science and Engineering (AMSE 2012) 2012年9月
Improvement of the X-ray reflectivity calculations on the multilayered surface

Yoshikazu Fujii

61th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis 2012年8月
Ｘ線反射率法による埋もれた界面の解析の新しい提案

藤居義和

第５９回応用物理学関係連合講演会 2012年3月応用物理学会
New Proposal for X-ray Reflectivity Calculations on Surfaces and Interfaces

Yoshikazu Fujii

8th International Symposium on Atomic Level Characterizations 2011年5月 The 141st Committee on Microbeam Analysis of Japan Society for the Promotion of Science
Depth profile analysis of the strain distribution in surface layer with surface roughness using x-ray diffraction at small glancing angles of incidence

FUJII Yoshikazu

第18回日本MRS学術シンポジウム 2007年12月日本MRS
微小角入射Ｘ線散乱による表面近傍構造の深さ方向分布解析

藤居義和

表界面・薄膜ナノ構造研究会－シンクロトロンX線回折法によるナノ界面構造研究の最前線－ 2007年10月表界面・薄膜ナノ構造研究会, 関西学院大学「ナノ界面創生評価サイクルセンター」
Simple Method of Surface Characterization by X-ray Scattering at small glancing angle of incidence using a compact UHV x-ray diffractometer

FUJII Yoshikazu

6th International Symposium on Atomic Level Characterizations 2007年10月 The 141st Committee on Microbeam Analysis of Japan Society for the Promotion of Science
微小角入射Ｘ線回折を使った表面多結晶層の深さ方向構造解析

藤居義和

埋もれた界面のＸ線・中性子解析に関するワークショップ2007 2007年7月（社）応用物理学会埋もれた界面のＸ線・中性子解析グループ, 東北大学金属材料研究所
微小角入射Ｘ線散乱を用いた表面粗さ及び表面歪解析

藤居義和

(SPring-8利用推進協議会)第２回SPring-8疲労損傷評価研究会 2005年12月招待有り

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担当経験のある科目(授業)

1995年4月 - 現在

量子力学 (神戸大学)
Ｘ線・粒子線応用工学Ⅱ (神戸大学)
Ｘ線・粒子線応用工学Ⅰ (神戸大学)
電磁気学基礎２ (神戸大学)
電磁気学基礎１ (神戸大学)
解析力学 (神戸大学)
ナノ構造解析論 (神戸大学)
Physical Analysis of Nanometric Structures (Kobe University)
Elements of Electromagnetism 2 (Kobe University)
Elements of Electromagnetism 1 (Kobe University)
Diffraction Physics of X-rays and ElectronsⅡ (Kobe University)
Diffraction Physics of X-rays and Electrons1 (Kobe University)
Analytical mechanics (Kobe University)

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

高精度界面構造解析のためのＸ線反射率法の改良の研究

学術研究助成基金助成金／基盤研究(C) 2018年4月 - 2021年3月

藤居義和
微小角入射X線散乱同時測定による結晶成長表面の動的解析

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2001年 - 2002年

藤居義和
超音波楕円振動切削による3次元マイクロ形状の超精密加工

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2000年 - 2001年

森脇俊道, 藤居義和, 柴坂敏郎, 社本英二, 樋野励
微小角入射X線散乱による結晶成長表面の実時間解析

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 1999年 - 2000年

藤居義和
微小角入射X線散乱による結晶成長過程のその場観察

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 1997年 - 1998年

藤居義和, 吉田虔太郎
微小角入射X線散乱による結晶成長表面の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 1995年 - 1996年

藤居義和, 吉田虔太郎
微小角斜射イオンの異常散乱の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(A) 1993年 - 1993年

藤居義和
成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業重点領域研究 1993年 - 1993年

万波通彦, 藤居義和, 木村健二
成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業重点領域研究 1992年 - 1992年

万波通彦, 藤居義和, 木村健二
イオン表面ブロッキング散乱による結晶表面の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業一般研究(B) 1991年 - 1992年

万波通彦, 藤居義和, 鈴木康文
成長初期におけるエピタキシャル膜構造の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業重点領域研究 1991年 - 1991年

万波通彦, 藤居義和, 鈴木康文, 木村健二

藤居義和

基本情報

研究キーワード

研究分野

学歴

委員歴

論文

MISC

書籍等出版物

講演・口頭発表等

担当経験のある科目(授業)

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

産業財産権

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