査読有り 2009年9月 微小角入射Ｘ線散乱法を利用した薄膜表面層構造評価 まてりあ 藤居 義和 巻 第9号 号 記述言語 日本語 掲載種別 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌） DOI 10.2320/materia.48.445 リンク情報 DOIhttps://doi.org/10.2320/materia.48.445 ID情報 DOI : 10.2320/materia.48.445 エクスポート BibTeX RIS
