査読有り 2020年2月 量子デバイスの高周波測定技術―半導体量子ドット系における高周波反射測定― 固体物理 大塚 朋廣 巻 55 号 開始ページ 69 終了ページ 77 記述言語 日本語 掲載種別 エクスポート BibTeX RIS