論文

査読有り
2020年1月21日

Determination of crystallographic chirality of MnSi thin film grown on Si (111) substrate

Physical Review Materials
  • Daisuke Morikawa
  • ,
  • Yuichi Yamasaki
  • ,
  • Naoya Kanazawa
  • ,
  • Tomoyuki Yokouchi
  • ,
  • Yoshinori Tokura
  • ,
  • Taka-hisa Arima

記述言語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.1103/PhysRevMaterials.4.014407

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DOI
https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.4.014407

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