論文

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2023年11月16日

Neural Network Modeling of Steep Turn-on Diodes: Validation and Implementation in SPICE Simulations

2023 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)

Kengo Nakata
Takayuki Mori
Jiro Ida

記述言語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/imfedk60983.2023.10366338
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/imfedk60983.2023.10366338
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10366231/10366326/10366338.pdf?arnumber=10366338

ID情報

DOI : 10.1109/imfedk60983.2023.10366338

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