論文

査読有り
2024年5月17日

Back Bias Effect with Hysteresis in Cryogenic 200 nm SOI MOSFETs

10th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) 2024
  • Ryusei Ri
    • ,
  • Takayuki Mori
    • ,
  • Hiroshi Oka
    • ,
  • Takahiro Mori
    • ,
  • Jiro Ida
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
エクスポート
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