論文

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2024年4月22日

Control of Hysteresis and Latch-Up on Steep Switching “PN-Body Tied SOI-FET Diode” by Ar-Ion Implantation

2024 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI TSA)

Hiroyoshi Matsushita
Takayuki Mori
Jiro Ida

記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/vlsitsa60681.2024.10546353
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/vlsitsa60681.2024.10546353
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10546337/10546338/10546353.pdf?arnumber=10546353

ID情報

DOI : 10.1109/vlsitsa60681.2024.10546353

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