論文

査読有り
2024年6月15日

Steep Slope Device “N-type Gate-Controlled Carrier-Injection SOI-Transistor”: Suppression of Hysteresis by Ar-ion Implantation and Possibility of CMOS

2024 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW)
  • Haruki Yonezaki
  • ,
  • Takayuki Mori
  • ,
  • Jiro Ida

479
開始ページ
57
終了ページ
58
記述言語
掲載種別
研究論文(国際会議プロシーディングス)
DOI
10.1109/snw63608.2024.10639213
出版者・発行元
IEEE

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/snw63608.2024.10639213
URL
http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10638791/10638792/10639213.pdf?arnumber=10639213
ID情報
  • DOI : 10.1109/snw63608.2024.10639213

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