第三世代放射光をX線源とし、試料-検出器距離955mmを持つ大半径高分解能ガンドルフィカメラを開発した。このカメラを用いることにより平均試料半径～70μm程度の天然の鉱物集合体の結晶性試料より良好な粉末X線回折図形を得ることに成功している。本手法を宇宙航空研究開発機構(JAXA)の探査機「はやぶさ」が回収した小惑星イトカワ回収の表面微粒子のX線回折分析に適用し斜長石温度計の適用でその結晶化温度の決定に成功した。