産業財産権

特許権

光放射圧によりトラップした微粒子プローブを用いた測定装置及び方法

財団法人大阪産業振興機構
  • 高谷 裕浩
  • ,
  • 三好 隆志
  • ,
  • 高橋 哲

出願番号
特願2002-164738
出願日
2002年6月5日
公開番号
特開2004-012244
公開日
2004年1月15日
特許番号/登録番号
特許第4117600号
登録日
発行日
2008年5月2日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103075155363235
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201103075155363235
ID情報
  • J-Global ID : 201103075155363235