MISC

2016年8月20日

低照度ダブルパルスビームを用いたワイドバンドギャップ半導体のナノ表面励起加工に関する研究

精密工学会大会学術講演会講演論文集
  • 林照剛
  • ,
  • 松永啓伍
  • ,
  • 黒河周平
  • ,
  • 横尾英昭
  • ,
  • 松川洋二
  • ,
  • 長谷川登
  • ,
  • 錦野将元
  • ,
  • 乙部智仁
  • ,
  • 熊田高之

2016
0
開始ページ
ROMBUNNO.D77
終了ページ
222
記述言語
日本語
掲載種別
DOI
10.11522/pscjspe.2016A.0_221
出版者・発行元
公益社団法人 精密工学会

筆者らは,フェムト秒レーザーによる光表面励起効果を利用し,ワイドバンドギャップ半導体表面を低照度ビームで加工する,低照度ダブルパルスビームによる表面励起加工技術を提案している.本研究では,ワイドバンドギャップ半導体の損傷閾値以下の照度のレーザーで,半導体表面のナノ加工を行った結果について報告する.

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.11522/pscjspe.2016A.0_221
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201602235587906074
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/130005244210
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201602235587906074
ID情報
  • DOI : 10.11522/pscjspe.2016A.0_221
  • J-Global ID : 201602235587906074
  • CiNii Articles ID : 130005244210
  • identifiers.cinii_nr_id : 9000345226428
  • ORCIDのPut Code : 138155815

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