産業財産権

特許権

光学センサ、光学検査装置、及び光学特性検出方法

株式会社リコー、株式会社国際電気通信基礎技術研究所
  • 石井稔浩
    • ,
  • 髙橋陽一郎
    • ,
  • 菅原悟
    • ,
  • 下川丈明
    • ,
  • 山下宙人
    • ,
  • 佐藤雅昭
出願番号
出願日
2014年8月11日
特許番号/登録番号
JP6502630,US10039452,EP3052025,CN105578968,CA2921829,KR101759041
登録日
発行日
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