2010年 - 2012年
高放射線環境下における10um超高分解能薄膜観察装置の開発
文部科学省 科学研究費補助金(基盤研究(C), 基盤研究(C)) 基盤研究(C), 基盤研究(C)
- 課題番号
- 22540320
- 体系的課題番号
- JP22540320
- 担当区分
- 研究代表者
- 配分額
-
- (総額)
- 4,550,000円
- (直接経費)
- 3,500,000円
- (間接経費)
- 1,050,000円
- 資金種別
- 競争的資金
荷電変換フォイルはビーム照射時に発生する熱や放射線損傷によって、ピンホールや変形を引き起こす。この荷電変換フォイル上のピンホールの成長過程、破損過程の研究には10μm以下の超高分解能観察装置が必要であるが、観察装置の使用環境は高放射線、真空中の観察と非常に劣悪であるため、長時間観察できる条件を満たした装置は存在しない。そこで、我々は高放射線環境でも超高分解能で常時観察できる望遠鏡の原理を応用した観察システムを考案した。放射線環境で使用できる材料や高分解能を可能とする様々な光学系を比較検討し、最良な方式を選択した結果、約9m先の被写体を8.3μmの分解能で観察できる超高分解能観察装置の設計に成功し、実機の製作を行った。本年度は超高分解能観察装置の光学性能試験について詳しく調べ、設計通りの性能が出ているか確認する。そのために、仮光路(光路上の光学機器はレンタル)を製作し、超高分解能観察装置を配置して、分解能、色収差などの光学性能を調べた。この光学性能試験により、高分解能で色収差もほとんど見られないことが確認された。非常に高性能な光学機器であることが証明されたことになる。この分解能は炭素フォイルのピンホール形成過程の観察するために必要な高分解能(10μm以下)に十分達成しており、今後は、製作した超高分解能観察装置を使用して、ビーム照射による荷電変換炭素フォイルの変形やピンホールの成...
- リンク情報
- ID情報
-
- 課題番号 : 22540320
- 体系的課題番号 : JP22540320