論文

査読有り
2018年12月

High resolution in situ Li depth profiling of thin films stacked Li ion batteries under charging conditions by means of TERD and RBS techniques with 5 MeV He+2 ion beam

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
  • K. Morita
    • ,
  • B. Tsuchiya
    • ,
  • J. Oonishi
    • ,
  • N. Mitsukuchi
    • ,
  • T. Yamamoto
    • ,
  • Y. Iriyama
    • ,
  • H. Tsuchida
    • ,
  • T. Majima
巻
437
号
開始ページ
8
終了ページ
12
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1016/j.nimb.2018.09.043
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.09.043
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000452933000002&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1016/j.nimb.2018.09.043
  • ISSN : 0168-583X
  • eISSN : 1872-9584
  • Web of Science ID : WOS:000452933000002
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