MISC

2016年9月7日

EBSDを用いたイオン照射材料の硬さ試験機による微小圧痕周りの残留ひずみ分布解析

日本金属学会講演概要(CD-ROM)

関口亮
柴山環樹
近藤創介
檜木達也

巻: 159th
号
開始ページ: ROMBUNNO.P82
終了ページ
記述言語: 日本語
掲載種別

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201602269472733076
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201602269472733076

ID情報

ISSN : 1342-5730
J-Global ID : 201602269472733076

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