産業財産権

特許権

テストケース仕様書結合プログラム、方法及び装置

富士通株式会社

モンプラターンチャイ
スッパシット
徳本晋
宗像一樹
片山朝子
前田芳晴
上原忠弘
谷田英生

出願番号: 特願2014-246197
出願日: 2014年12月4日
公開番号: 特開2016-110327
公開日: 2016年6月20日

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201603017062506505
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201603017062506505

ID情報

J-Global ID : 201603017062506505

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