産業財産権

特許権

テストデータ生成プログラム、方法及び装置

富士通株式会社

徳本晋
上原忠弘
宗像一樹
藤原翔一朗
モンプラターンチャイ
スッパシット
前田芳晴
片山朝子

出願番号: 特願2013-163794
出願日: 2013年8月7日
公開番号: 特開2015-032282
公開日: 2015年2月16日
特許番号/登録番号: 特許第6142724号
登録日
発行日: 2017年5月19日

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201703002540861197
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201703002540861197

ID情報

J-Global ID : 201703002540861197

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