国際会議 2014年8月 Evaluation of Stress Relaxation in Strained SiGe Wire by Two-dimensional Super-resolution Raman Spectroscopy 24th International Conference on Raman Spectroscopy M. Tomita, D. Kosemura, K. Usuda, T. Tezuka, A. Ogura 記述言語 英語 会議種別 ポスター発表