藤本俊幸 (Toshiyuki Fujimoto) - マイポータル

基本情報

所属: 独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター研究戦略部長

学位: 理学博士

J-GLOBAL ID: 200901097600698143
researchmap会員ID: 0000044536

外部リンク: http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=T49954079

研究分野

ナノテク・材料 / ナノ材料科学 /

論文

Nanoparticle Characterization-Supplementary Comparison on Nanoparticle Size

Jämting, A.K., Lin, H.-L., Fu, W.-E., Weng, H.-F., Misumi, I., Sugawara, K., Gonda, S., Takahashi, K., Takahata, K., Ehara, K. …

Metrologia 56(1A) 2019年
High transport efficiency of nanoparticles through a total-consumption sample introduction system and its beneficial application for particle size evaluation in single-particle ICP-MS

Shin-ichi Miyashita, Hiroaki Mitsuhashi, Shin-ichiro Fujii, Akiko Takatsu, Kazumi Inagaki, Toshiyuki Fujimoto

ANALYTICAL AND BIOANALYTICAL CHEMISTRY 409(6) 1531-1545 2017年2月査読有り
Assessment of technical problems in the analysis of inorganic elements in squid through proficiency testing

Tomohiro Narukawa, Kazumi Inagaki, Shigehiro Naito, Yanbei Zhu, Shin-ichi Miyashita, Takayoshi Kuroiwa, Akiharu Hioki, Toshiyuki Fujimoto, Koichi Chiba

TRAC-TRENDS IN ANALYTICAL CHEMISTRY 76 216-226 2016年2月査読有り
CCQM K-129 Measurement of mole fractions of Cu, In, Ga and Se in Cu(In,Ga)Se-2 Films Final Report

Kyung Joong Kim, An Soon Kim, Jong Shick Jang, Jung Ki Suh, Thomas Wirth, Vasile-Dan Hodoroaba, Wolfgang Unger, Joyce R. Araujo, Braulio S. Archanjo, Carlos E. Galhardo …

METROLOGIA 53 2016年査読有り
CCQM pilot study CCQM-P140: quantitative surface analysis of multi-element alloy films

Kim Kyung Joong, Jang Jong Shik, Kim An Soon, Suh Jung Ki, Chung Yong-Duck, Hodoroaba Vasile-Dan, Wirth Thomas, Unger Wolfgang, Kang Hee Jae, Popov Oleg …

METROLOGIA 52 2015年査読有り
Determining sample alignment in x-ray reflectometry using thickness and density from GaAs/AlAs multilayer certified reference materials

D. Windover, D. L. Gil, Y. Azuma, T. Fujimoto

MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY 25(10) 2014年10月査読有り
Primary particle size distribution measurement of nanomaterials by using TEM

Kazuhiro Yamamoto, Toshiyuki Fujimoto

Microscopy and Microanalysis 20(3) 1946-1947 2014年8月1日査読有り
Identification of possible technical problems in determination of the major inorganic constituents of brown-rice flour by evaluating proficiency test results

Shin-Ichi Miyashita, Kazumi Inagaki, Shigehiro Naito, Kumiko Shindoh, Tomohiro Narukawa, Yanbei Zhu, Takayoshi Kuroiwa, Akiharu Hioki, Toshiyuki Fujimoto, Koichi Chiba

Analytical and Bioanalytical Chemistry 405(25) 8347-8362 2013年10月査読有り
Density Profile of Thermal Oxide Thin Films on Si(100)

Odaka Kenji, Kurokawa Akira, Azuma Yasushi, Zhang Lulu, Fujimoto Toshiyuki

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 51(9) 2012年9月査読有り
Calibration method of tilt and azimuth angles for alignment of TEM tomographic tilt series

Misa Hayashida, Shinya Terauchi, Toshiyuki Fujimoto

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 82(10) 2011年10月査読有り
Fabrication of marker area to align TEM tomographic tilt series of rod-shaped specimens

Misa Hayashida, Shinya Terauchi, Toshiyuki Fujimoto

Micron 42(3) 307-310 2011年4月査読有り
Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) using the metal-cluster-complex primary ion of Ir-4(CO)(7)(+)

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Atsushi Suzuki, Taisuke Nakanaga, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 43(1-2) 245-248 2011年1月査読有り
金属クラスター錯体イオンビームの特性と二次イオン質量分析（SIMS）への応用

藤原幸雄, 野中秀彦, 齋藤直昭, 鈴木淳, 井藤浩志, 藤本俊幸, 黒河明, 一村信吾, 富田充裕

表面科学 31(11) 593-598 2010年11月査読有り
Automatic coarse-alignment for TEM tilt series of rod-shaped specimens collected with a full angular range

Misa Hayashida, Shinya Terauchi, Toshiyuki Fujimoto

Micron 41(5) 540-545 2010年7月査読有り
Towards automatic electron tomography for rod-shaped specimen

Misa Hayashida, Yoshihide Kimura, Toshiyuki Fujimoto

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 8 178-183 2010年4月10日査読有り
Mass Markers for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry Spectrum in a Large Mass Region Using Ir-4(CO)(12) Metal Cluster Complex Sample

Nonaka H, Nakanaga T, Fujiwara Y, Saito N, Fujimoto T

Japanese Journal of Applied Physics 49(8) 86601-086601-6 2010年査読有り
Metal cluster complex primary ion beam source for secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Fujiwara Yukio, Watanabe Kouji, Nonaka Hidehiko, Saito Naoaki, Suzuki Atsushi, Fujimoto Toshiyuki, Kurokawa Akira, Ichimura Shingo

VACUUM 84(5) 544-549 2009年12月10日査読有り
Ion Beam Generation from an Electrolyte Solution Containing Polyatomic Cations and Anions for Secondary Ion Mass Spectrometry

Fujiwara Yukio, Watanabe Kouji, Saito Naoaki, Nonaka Hidehiko, Suzuki Atsushi, Nakanaga Taisuke, Fujimoto Toshiyuki, Kurokawa Akira, Ichimura Shingo, Tomita Mitsuhiro

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 48(12) 126005-126005-10 2009年12月査読有り
ナノテクノロジー計量計測における国際標準化

藤本俊幸, 一村信吾

顕微鏡 44(3) 185-190 2009年9月30日
金属クラスター錯体イオンビームの発生とその応用

藤原幸雄, 近藤貢二, 寺西義一, 渡辺幸次, 野中秀彦, 齋藤直昭, 井藤浩志, 藤本俊幸, 黒河明, 一村信吾 …

Journal of the Vacuum Society of Japan 52(4) 231-236 2009年5月査読有り

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MISC

The importance of international standards for the graphene community

Charles A. Clifford, Erlon H. Martins Ferreira, Toshiyuki Fujimoto, Jan Herrmann, Angela R. Hight Walker, Denis Koltsov, Christian Punckt, Lingling Ren, Gregory J. Smallwood, Andrew J. Pollard

Nature Reviews Physics 3(4) 233-235 2021年4月1日
ナノ材料適正管理のための複合計測システムの開発

一村信吾, 加藤晴久, 堀池重吉, 杉沢寿志, 黒河明, 熊谷和博, 白川部喜春, 重藤知夫, 山口哲司, 高橋かより …

ぶんせき 2020(10) 366-373 2020年10月
バイオディーゼル認証標準物質開発のための元素分析法の検討

朱彦北, 北牧祐子, 成川知弘, 沼田雅彦, 黒岩貴芳, 日置昭治, 藤本俊幸, 千葉光一

分析化学討論会講演要旨集 75th 117 2015年5月9日
ID‐ICP‐QMS/QMSによるバイオディーゼル中Sの定量分析

朱彦北, 北牧祐子, 沼田雅彦, 黒岩貴芳, 日置昭治, 千葉光一, 藤本俊幸

日本分析化学会年会講演要旨集 63rd 372 2014年9月3日
有機溶媒希釈とICP‐QMS/QMSによるバイオディーゼル燃料中の多元素同時分析

朱彦北, 北牧祐子, 沼田雅彦, 黒岩貴芳, 日置昭治, 千葉光一, 藤本俊幸

分析化学討論会講演要旨集 74th 64 2014年5月10日
分析実務者のスキルアップを目的とした玄米中無機元素分析の技能向上支援プログラム

宮下振一, 稲垣和三, 内藤成弘, 進藤久美子, 成川知弘, 朱彦北, 黒岩貴芳, 日置昭治, 藤本俊幸, 千葉光一

日本分析化学会年会講演要旨集 62nd 225-225 2013年8月27日
X線反射率法を用いたSIトレーサブルな膜厚評価 : 試料表面形状評価による不確かさ低減効果

藤本俊幸, 山岸秀一, 東康史, 高辻利之, 渡部司

表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan 28(9) 494-499 2007年9月10日
Tip characterizer for atomic force microscopy

Hiroshi Itoh, Toshiyuki Fujimoto, Shingo Ichimura

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 77(10) 103704-103707 2006年10月
Secondary ion mass spectrometry of organic thin films using metal-cluster-complex ion source

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Hidehiko Nonaka, Naoaki Saito, Hiroshi Itoh, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura, Mitsuhiro Tomita

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS 45(33-36) L987-L990 2006年9月
Ion-beam characteristics of the metal cluster complex of Ir-4(CO)(12)

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Yoshikazu Teranishi, Hidehiko Nonaka, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura, Mitsuhiro Tomita

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 100(4) 043305- 2006年8月
Depth resolution improvement in secondary ion mass spectrometry analysis using metal cluster complex ion bombardment

M. Tomita, T. Kinno, M. Koike, H. Tanaka, S. Takeno, Y. Fujiwara, K. Kondou, Y. Teranishi, H. Nonaka, T. Fujimoto …

APPLIED PHYSICS LETTERS 89(5) 053123- 2006年7月
Production of stable ion beam of Os-3(CO)(12) with compact metal-cluster-complex ion source

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Yoshikazu Teranishi, Hidehiko Nonaka, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS 45(7) 6000-6007 2006年7月
Observation of sputtered Si surface irradiated with metal cluster complex ions

Yoshikazu Teranishi, Kouji Kondou, Yukio Fujiwara, Hidehiko Nonaka, Misuhiro Tomita, Kazuhiro Yamamoto, Toshiyuki Fujimoto, Shingo Ichimura

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS 45(6B) 5528-5530 2006年6月
Reliability of parameters of associated base straight line in step height samples: Uncertainty evaluation in step height measurements using nanometrological AFM

Misumi, I, S Gonda, T Kurosawa, Y Azuma, T Fujimoto, Kojima, I, T Sakurai, T Ohmi, K Takamasu

PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY 30(1) 13-22 2006年1月
Observation of a sputtered Si surface irradiated by metal cluster complex ions

Y. Teranishi, K. Kondou, Y. Fujiwara, H. Nonaka, K. Yamamoto, T. Fujimoto, S. Ichimura

Digest of Papers - Microprocesses and Nanotechnology 2005: 2005 International Microprocesses and Nanotechnology Conference 2005 146-147 2005年12月1日
Cleaning method for thickness metrology of SiO2 thin films on Si substrates by heating in atmosphere

Y Azuma, T Fujimoto, Kojima, I

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS 44(11) 8256-8258 2005年11月
Studies of CO adsorption on Pt(100), Pt(410), and Pt(110) surfaces using density functional theory

S Yamagishi, T Fujimoto, Y Inada, H Orita

JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B 109(18) 8899-8908 2005年5月
Application of metal cluster complex ion beam for low damage sputtering

T Fujimoto, T Mizota, H Nonaka, A Kurokawa, S Ichimura

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 37(2) 164-166 2005年2月
金属クラスター錯体を用いたクラスターイオン銃の開発

藤本俊幸, 溝田武志, 野中秀彦

ＪＯＵＲＮＡＬＯＦＳＵＲＦＡＣＥＡＮＡＬＹＳＩＳ 12(1) 2-8 2005年
Preparation of ultrathin HfO2 films and comparison of HfO2/SiO2/Si interfacial structures

RQ Tan, Y Azuma, T Fujimoto, JW Fan, Kojima, I

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 36(8) 1007-1010 2004年8月

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