2016年
自立金属ナノ薄膜のその場電界放射走査型電子顕微鏡観察疲労/クリープ強度試験法の開発
材料
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- 巻
- 65
- 号
- 12
- 開始ページ
- 869
- 終了ページ
- 876
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 研究論文(学術雑誌)
- DOI
- 10.2472/jsms.65.869
- 出版者・発行元
- 公益社団法人 日本材料学会
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.2472/jsms.65.869
- ISSN : 1880-7488
- ISSN : 0514-5163
- CiNii Articles ID : 130005251201
- identifiers.cinii_nr_id : 9000345253949
- SCOPUS ID : 85007345516