論文

査読有り
2016年

自立金属ナノ薄膜のその場電界放射走査型電子顕微鏡観察疲労/クリープ強度試験法の開発

材料
  • 近藤 俊之
  • ,
  • 秦 彰宏
  • ,
  • 平方 寛之
  • ,
  • 﨑原 雅之
  • ,
  • 箕島 弘二

65
12
開始ページ
869
終了ページ
876
記述言語
日本語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.2472/jsms.65.869
出版者・発行元
公益社団法人 日本材料学会

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.2472/jsms.65.869
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/130005251201
ID情報
  • DOI : 10.2472/jsms.65.869
  • ISSN : 1880-7488
  • ISSN : 0514-5163
  • CiNii Articles ID : 130005251201
  • identifiers.cinii_nr_id : 9000345253949
  • SCOPUS ID : 85007345516

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