産業財産権

特許権

放射線計測方法及び放射線計測装置

  • 井▲崎▼ 賢二
  • ,
  • 森下 祐樹
  • ,
  • 山崎 巧
  • ,
  • 金子 純一
  • ,
  • 樋口 幹雄
  • ,
  • 坪田 陽一
  • ,
  • 山本 誠一
  • ,
  • 石橋 浩之

出願番号
特願2015-028396
出願日
2015年2月17日
公開番号
特開2016-151454
公開日
2016年8月22日
特許番号/登録番号
特許第6524484号
登録日
2019年5月17日
発行日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201903002078894496
ID情報
  • J-Global ID : 201903002078894496