透過電子顕微鏡で観察中の試料に対し、望みの波長と強度のレーザー光を照射可能な装置を開発した。この装置を用いて、貴金属物質に対してレーザー光照射中に得た電子線ホログラフィー像を解析した結果、光照射に伴って試料表面近傍に現れた誘起光電場の空間分布をナノスケールで直接イメージングすることに成功した。