早稲田篤 (Atsushi Waseda) - マイポータル

基本情報

所属: 独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター工学計測標準研究部門質量標準研究グループ

J-GLOBAL ID: 200901019295575604
researchmap会員ID: 5000086247

外部リンク: http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=A08371935

研究分野

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 計測工学 /

論文

Lattice comparison measurement of silicon single crystals by a self-referenced lattice comparator

Atsushi Waseda, Naoki Kuramoto

Metrologia 62(6) 065002-065002 2025年11月11日
Accurate density measurement of a small solid sample using a combination of hydrostatic weighing and pressure-of-flotation methods

Kanako Nishihashi, Atsushi Waseda, Yohan Kondo, Youichi Bitou, Naoki Kuramoto

Metrologia 62(1) 015006-015006 2024年12月17日
Absolute measurement of the density of silicon spheres to improve the primary density standard of NMIJ

Naoki Kuramoto, Lulu Zhang, Shigeki Mizushima, Atsushi Waseda, Sho Okubo, Hajime Inaba, Akira Kurokawa, Kenichi Fujii

Metrologia 2020年4月1日査読有り
EURAMET key comparison 1031 (EURAMET.M.D-K1.1) solid density comparison

Horst Bettin, Michael Borys, Martin Firlus, Christian Buchner, Zoltan Zelenka, Nieves Medina, Tijana Parlić-Risović, Mladen Bezjak, Chris Mitsas, Alexandros Lefkopoulos …

Metrologia 57(1 A) 2020年1月1日
A new Si-28 single crystal: counting the atoms for the new kilogram definition

G. Bartl, P. Becker, B. Beckhoff, H. Bettin, E. Beyer, M. Borys, I. Busch, L. Cibik, G. D'Agostino, E. Darlatt …

METROLOGIA 54(5) 693-715 2017年10月査読有り
Uniformity Evaluation of Lattice Spacing of Si-28 Single Crystals

Atsushi Waseda, Hiroyuki Fujimoto, Xiao Wei Zhang, Naoki Kuramoto, Kenichi Fujii

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 66(6) 1304-1308 2017年6月査読有り
Homogeneity Characterization of Lattice Spacing of Si-28 Single Crystals

Waseda A, Fujimoto H, Zhang X. W, Kuramoto N, Fujii K, IEEE

2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (Cpem 2016) 2016年査読有り
Homogeneity Characterization of Lattice Spacing of Silicon Single Crystals

Waseda Atsushi, Fujimoto Hiroyuki, Zhang Xiao Wei, Kuramoto Naoki, Fujii Kenichi

Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement 64(6) 1692-1695 2015年査読有り
Improved measurement results for the Avogadro constant using a Si-28-enriched crystal

Azuma Y, Barat P, Bartl G, Bettin H, Borys M, Busch I, Cibik L, D'Agostino G, Fujii K, Fujimoto H …

Metrologia 52(2) 360-375 2015年査読有り
Density Comparison of Isotopically Purified Silicon Single Crystals by the Pressure-of-Flotation Method

Atsushi Waseda, Kenichi Fujii

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 60(7) 2539-2543 2011年7月査読有り
Homogeneity characterization of lattice spacing of silicon single crystals by a self-referenced lattice comparator

H. Fujimoto, A. Waseda, X. W. Zhang

Metrologia 48(2) S55-S61 2011年4月査読有り
Counting the atoms in a Si-28 crystal for a new kilogram definition

B. Andreas, Y. Azuma, G. Bartl, P. Becker, H. Bettin, M. Borys, I. Busch, P. Fuchs, K. Fujii, H. Fujimoto …

METROLOGIA 48(2) S1-S13 2011年4月査読有り
Fast X-ray reflectivity measurement using a cooling PIN photodiode

X. Zhang, H. Fujimoto, A. Waseda

IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 24(1) 2011年査読有り
Determination of the Avogadro Constant by Counting the Atoms in a Si-28 Crystal

B. Andreas, Y. Azuma, G. Bartl, P. Becker, H. Bettin, M. Borys, I. Busch, M. Gray, P. Fuchs, K. Fujii …

PHYSICAL REVIEW LETTERS 106(3) 2011年1月査読有り
28Siによる次世代質量標準の開発

藤井賢一, 早稲田篤, 倉本直樹

精密工学会誌 76(11) 1229-1233 2010年
A silicon d-spacing mapping measurement system with resolution of 10 -9

Xiaowei Zhang, Hiroshi Sugiyama, Hiroyuki Fugimoto, Atsushi Waseda, Toshikazu Takatomi

AIP Conference Proceedings 1234 895-898 2010年査読有り
DENSITY COMPARISON OF ISOTOPICALLY ENRICHED SILICON SINGLE CRYSTALS BY THE PRESSURE-OF-FLOTATION METHOD

A. Waseda, K. Fujii

2010 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS CPEM 496-497 2010年査読有り
Density measurement of a small Si-28 single crystal

A. Waseda, K. Fujii

2008 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS DIGEST 666-667 2008年査読有り
Status of the international effort on the x-ray crystal density work and its progress towards a measurement of the Avogadro constant

Fujii K, Waseda A, Kuramoto N, Becker P, Nicolaus A, Krumrey M, Danzebrink H. -U, Busch I, Bettin H, Mana G …

2008 Conference on Precision Electromagnetic Measurements Digest 300-+ 2008年査読有り
Density evaluation of silicon thermal-oxide layers on silicon crystals by the pressure-of-flotation method

Atsushi Waseda, Kenichi Fujii

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 56(2) 628-631 2007年4月査読有り

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MISC

21pRB-6 X線結晶密度法によるシリコン原子空孔評価とキログラムの再定義(21pRB 領域10シンポジウム:シリコン結晶中の単原子空孔:量子状態解明の新たな展開と半導体技術イノベーション,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

藤井賢一, 早稲田篤, 倉本直樹

日本物理学会講演概要集 63(2) 876-876 2008年8月25日
密度の標準と計測技術 (特集流体物性)

早稲田篤, 倉本直樹

計測標準と計量管理 58(1) 3-9 2008年5月20日
第26回日本熱物性シンポジウム報告

馬場哲也, 阿子島めぐみ, 石井順太郎, 加藤英幸, 粥川洋平, 倉本直樹, 竹歳尚之, 田中勝之, 根本栄治, 東之弘 …

熱物性 : Japan journal of thermophysical properties 20(1) 20-23 2006年2月28日
Comparison of density difference measurements at PTB and NMIJ

H Bettin, H Toth, A Waseda, K Fujii

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 54(2) 877-881 2005年4月
Density measurement of a thin-film by the pressure-of-flotation method

A Waseda, K Fujii, N Taketoshi

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 54(2) 882-885 2005年4月
Present state of the Avogadro constant determination from silicon crystals with natural isotopic compositions

K Fujii, A Waseda, N Kuramoto, S Mizushima, P Becker, H Bettin, A Nicolaus, U Kuetgens, S Valkiers, P Taylor …

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 54(2) 854-859 2005年4月
Density comparison measurements of silicon crystals by a pressure-of-flotation method at NMIJ

A. Waseda, K. Fujii

Metrologia 41(2) S62-S67 2004年4月
Accurate density measurements of reference liquids by a magnetic suspension balance

N. Kuramoto, K. Fujii, A. Waseda

Metrologia 41(2) S84-S94 2004年4月
Evaluation of the molar volume of silicon crystals for a determination of the Avogadro constant

K Fujii, A Waseda, N Kuramoto, S Mizushima, M Tanaka, S Valkiers, P Taylor, R Kessel, P De Bievre

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 52(2) 646-651 2003年4月
Development of a silicon density standard and precision density measurements of solid materials by hydrostatic weighing

K Fujii, A Waseda, N Kuramoto

MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY 12(12) 2031-2038 2001年12月
Density comparison measurement of silicon by pressure of flotation method

A. Waseda, K. Fujii

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 50(2) 604-607 2001年4月
Density measurements of silicon crystals by hydrostatic weighing

K Fujii, A Waseda, M Tanaka

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT 50(2) 616-621 2001年4月
High precision density comparison measurement of silicon crystals by the pressure of flotation method

A. Waseda, K. Fujii

Measurement Science and Technology 12(12) 2039-2045 2001年
Free energy analysis for the phase transition of quasi-crystals and phase diagram of the AlCuFe system

A. Waseda, K. Kimura, H. Ino

Materials Science and Engineering A 181-182 762-765 1994年5月15日

共同研究・競争的資金等の研究課題

アボガドロ定数にトレーサブルな超高精度フリーフォーム形状測定技術の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2021年4月 - 2024年3月

尾藤洋一, 近藤余範, 早稲田篤, 倉本直樹, 水島茂喜

早稲田篤

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